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Sayh al Uhaymir 005和Sayh al Uhaymir 008
阿曼
发现时间:1999年11月26日
火星玄武岩(shergottite)
两个发现地点,彼此相距为1864米,共发现5块灰绿色的陨石。Sayh al Uhaymir(SAU)005共三块,一块547克,另两块质量分别为561克和236克,陨石覆盖有部分熔壳,熔壳上面可以看到气印。Sayh al Uhaymir 008共两块,一块质量为7805克,另一块质量为774克。后者几乎覆盖有完整的黑色熔壳。SaU 005/008总质量为9923克。
矿物学和分类(J. Zipfel,MPI):陨石斑状结构,大橄榄石斑晶(Fo64-71)嵌入在一个细粒度的基质。基质主要由易变辉石(En61-70Wo6-13),熔长石(An51-65Or0.3-0.9)组成; 次矿物包括辉石,磷酸盐,不透明矿物; 陨石受冲击等级非常高,体现在:橄榄石的平面形变与镶嵌性,斜辉石破碎与双晶,陨石常见毫米大小的冲击熔化区与淬火冷却纹理; 冲击熔化区由棕橙色环形结构的,非常细粒度的,共生的不明矿物与辉石组成; 陨石非常新鲜,只有少数的,较大的裂隙填充有地面风化产物方解石。
化学分析(B. Spettel, G. Dreibus, MPI; H. Palme, Köln),惰性气体分析(M. Paetsch, L. Schultz, MPI),Sm-Nd 分类(E. Jagoutz,MPI):陨石质地,化学成分,惰性气体,Sm-Nd 分类标明陨石与Dar al Gani 476/489/670/735联系比较密切; 然而,不同的矿物化学和发现地点的不同,说明陨石与它们不能简单的配对。
陨石标本:60克,MPI; 匿名发现者持有大部分陨石。
Mineralogical Mode for SaU
Zipfel (2000) Gnos et al. Bartoschewitz Goodrich Walton et al.
(2002) (2003) (2003) (2005)
辉石 48 vol. % 52 - 58 56 48 + 7 49.8 - 54.6 %
橄榄石 25 22 - 31 23 21-29 17.2 - 23.1
熔长石 15 8.6 - 13 17 15 13.8 - 15.5
不透明矿物 ~ 1 1 1.6 - 3.8
硫化物 0.1 – 0.2
磷酸盐 <<0.1
熔袋 4.8 – 6.7 ~3 10.2 - 11.3 %
Table 1: Composition of Sayh al Uhaymir.
reference Dreibus 2000 Dreibus 2000 Gnos 2002
weight 5.4 grams! fusion crust
SiO2 % 47.2 (a) 48.49 (e)
TiO2 0.42 (a) 0.41 (e)
Al2O3 4.53 (a) 4.97 (e)
FeO 18.34 (a) 17.8 (b) 16.34 (e)
MnO 0.46 (a) 0.45 (b) 0.43 (e)
CaO 5.74 (a) 5.18 (b) 5.62 (e)
MgO 20.49 (a) 20.54 (e)
Na2O 0.6 (b) 0.64 (e)
K2O 0.022 (b)
P2O5 0.31 (a)
Li ppm
C % 0.11 (c )
F 56 (b)
S % 0.16 (c ) tr.
Cl 143 (b)
Sc 29.9 (b)
V 136 (a)
Co 55 (b)
Ni 310 (b)
Cu
Zn 61 (b)
Ga 8.8 (b)
Ge
As 0.46 (b)
Se
Br 0.28 (b)
Rb
Sr
YZ
r Brandon12
Ru ppb 1.7
Nb
Mo
Pd ppb 3.95
Ag ppb
Cd ppb
Sb ppb
Te ppb
Cs ppm
Ba
La 0.11 (d) 0.1 (b)
Ce 0.35 (d) <.6 (b)
Pr 0.067 (d)
Nd 0.47 (d) <.65 (b)
Sm 0.43 (d) 0.42 (b)
Eu 0.18 (d) 0.2 (b)
Gd 0.86 (d)
Tb 0.18 (d) 0.19 (b)
Dy 1.3 (d) 1.42 (b)
Ho 0.3 (d) 0.3 (b)
Er 0.77 (d)
Tm
Yb 0.79 (d) 0.81 (b)
Lu 0.11 (d) 0.13 (b)
Hf 0.43 (d) 0.39 (b)
Ta
W ppb Brandon12
Re ppb 0.5
Os ppb 0.7
Ir ppb 0.7
Pt ppb 4.6
Au ppb
Tl ppb
Bi ppb
Th ppm 0.012 (d) <.1 (b)
U ppm 0.05 (d) 0.05 (b)
technique (a) XRF, (b) INAA, (c ) CSA, (d) MIC-SSMS, (e) electron probe
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